1. 前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）4、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水
部分可選項(xiàng)： 1. 大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）3. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開(kāi)關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）使用要求；220V，50Hz ，去離子水如需更為詳細(xì)資料，敬請(qǐng)來(lái)電來(lái)函索取，如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。
部分可選項(xiàng)： 1. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開(kāi)關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)4．在不改變掃描機(jī)構(gòu)主體，升級(jí)為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統(tǒng)，成倍提高掃描效率4. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）5、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置使用要求；220V，50Hz ，去離子水備注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機(jī)型,SAM 301 UltraTec 超高速機(jī)型（雙馬達(dá)配置，掃描速度最高達(dá) 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機(jī)型，根據(jù)具體配置予以細(xì)分，滿足不同用戶需求；歡迎您來(lái)電咨詢，我們會(huì)根據(jù)您的產(chǎn)品檢測(cè)需要，為您推薦最合適的機(jī)型和配置.設(shè)備如軟件、硬件升級(jí)， 相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。
部分可選項(xiàng)： 1. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開(kāi)關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)4．在不改變掃描機(jī)構(gòu)主體，升級(jí)為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統(tǒng)，成倍提高掃描效率4. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）5、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置
（ 敬請(qǐng)注意：因超聲掃描技術(shù)日新月異，以下所列設(shè)備最的參數(shù)規(guī)格僅供參考，并非最新；如您需要設(shè)備最新的技術(shù)規(guī)格表或需要我們定制提供某些硬件配置或軟件功能，請(qǐng)您聯(lián)系對(duì)應(yīng)區(qū)域的銷售人員）1、 掃描臺(tái)：第二代High Definition高清晰掃描臺(tái)；重復(fù)精度 0.05umX / Y 軸均為超高性能線性馬達(dá)（Y 軸為雙馬達(dá)）X / Y 軸具有內(nèi)置磁力機(jī)構(gòu)，配置儀器設(shè)備專用大理石防震臺(tái)和平衡慣性機(jī)構(gòu)，確保掃描的穩(wěn)定性在高速掃描過(guò)程中可隔絕振動(dòng)的影響，可避免圖像因快速掃描而失真； 2. 前后雙探頭機(jī)構(gòu)，可前后同時(shí)反射掃描，2倍單探頭掃描效率； 3. 前后每個(gè)探頭各自掃描范圍：最小：200 x 200 μm 最大：320 x 320 mm 4. 可自動(dòng)尋找被測(cè)樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸，自動(dòng)設(shè)定掃描范圍 5. 最大掃描速度： 2,000mm/s, X 軸最大加速度：20,000mm/s2 6. 接收發(fā)射器DPR 500帶寬：500MHz 7. ADC 卡采樣頻率：5G/秒 8. 支持探頭頻率：5MHz-400MHz 9. 增益調(diào)節(jié)窗口：-22dB-50dB, 更多功能高級(jí)菜單設(shè)置 10. 主要掃描模式：A-掃描、B-掃描、X-掃描 （多層C掃描）、Z-Staple 掃描（在不同的Z高度進(jìn)行連續(xù)的C掃描）、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實(shí)體掃描模式、托盤矩陣掃描、 Z變換掃描、順序掃描預(yù)掃描、自動(dòng)掃描、空位跳躍掃描、插值掃描、分頻掃描，Over Scan等； 11. 圖像分辨率最大≥ 42,000 x 42,000 像素, 精度最小0.5um/像素；12. HiSA ...
USAMInverted 是一款專為高端研發(fā)和工業(yè)應(yīng)用開(kāi)發(fā)的超聲波檢測(cè)儀器，它必須安裝在防振工作臺(tái)上。將超聲波掃描顯微鏡和光學(xué)顯微鏡結(jié)合起來(lái)，允許用戶在兩者之間快速切換。 聲學(xué)和光學(xué)顯微圖像在x-y方向上的精度低于5μm，用戶可以對(duì)樣品的同一區(qū)域用聲學(xué)和光學(xué)的方法進(jìn)行細(xì)致的比較。